西安谊邦电子 公司引进美国的先进半导体测试技术,在此基础上研制生产了YB6000系列半导体分立器件测试系统,该测试系统拥有功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点,各项技术指标均达到国际领先水平。其雄厚的技术实力,多年的开发产品经验和独特严谨的设计方案使谊邦电子YB系列测试系统性能更加超群,品质更为可靠 ...
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标签: IGBT 测试 电子 半导体测试
上传时间: 2013-10-30
上传用户:yangqian
半导体测试很好的教程资料,较全面,而且挺通俗易懂的。
/dl/834398.html
标签: ic半导体
上传时间: 2022-05-23
上传用户:lipengxu
在半导体测试应用中获得最大吞吐量并最大程度提高低电流性能吉时利最新的半导体开关主机—— 707B六槽矩阵开关主机 和 708B单槽矩阵开关主机。这些新的主机专门为实验室和生产环境的半导体测试应用优化,具有极高的指令到连接速度。此应用笔记涉及直流和交流特性分析的开关系统配置,开关系统定时考虑,源和测量仪器的协调 ...
/dl/41962.html
标签: 吞吐量 半导体 开关系统 应用指南
上传时间: 2013-11-10
上传用户:hjkhjk
随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高,以及对于系统灵敏度等要求的不断提高,对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中,一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号,另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此,保证ADC/DAC在高速采样情况 ...
/dl/835974.html
标签: ADC DAC
上传时间: 2022-06-19
上传用户:lostxc
labview教程集 .part1
/dl/719.html
标签: labview part 教程
上传时间: 2013-05-20
上传用户:eeworm
半导体存储器及其测试
/dl/1537.html
标签: 半导体存储器 测试
上传时间: 2013-04-15
专辑类-器件数据手册专辑-120册-2.15G 半导体存储器及其测试-376页-6.0M.pdf
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标签: 376 6.0 半导体存储器
上传时间: 2013-06-21
上传用户:zhouli
意法半导体STM32F103核心板外扩测试程序
/dl/34884.html
标签: F103 STM 103 32F
上传时间: 2013-11-02
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电力半导体器件结温的计算和测试
/dl/42196.html
标签: 电力半导体器件 测试 结温 计算
上传时间: 2013-11-05
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各种电子器件管脚图,THD-1型数字电路实验箱简介,门电路及参数测试,半加器、全加器,数据选择器,数码比较器,译码器和数码显示器,锁存器和触发器,中规模计数器,双向移位寄存器,三态门和数据总线,半导体存储器,多谐振荡器,单稳态触发器,CMOS门电路及集成施密特触发器,集成数模转换器(DAC),逐次渐进型模数转换器(ADC) ...
/dl/292428.html
标签: THD 电子器件 数字电路 实验箱
上传时间: 2013-12-19
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