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闩锁效应 1782

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  • 场效应管参数(5000种).rar

    场效应管参数(5000种),Excel 文件格式

    /dl/8772.html

    标签: 5000 场效应管参数

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:tianjinfan

  • elecfans.com-最新世界场效应管特性代换手册.rar

    最新世界场效应管特性代换手册

    /dl/8926.html

    标签: elecfans com 场效应管

    上传时间: 2013-07-02

    上传用户:kjl

  • FPGA内全数字延时锁相环的设计.rar

    现场可编程门阵列(FPGA)的发展已经有二十多年,从最初的1200门发展到了目前数百万门至上千万门的单片FPGA芯片。现在,FPGA已广泛地应用于通信、消费类电子和车用电子类等领域,但国内市场基本上是国外品牌的天下。 在高密度FPGA中,芯片上时钟分布质量变的越来越重要,时钟延迟和时钟偏差已成为影响系统性能的重要因素。目 ...

    /dl/9146.html

    标签: FPGA 全数字 延时

    上传时间: 2013-06-10

    上传用户:yd19890720

  • 贴片二三极管场效应管代码查询.rar

    二三极管场效应管代码查询,供选择器件时使用。

    /dl/9765.html

    标签: 贴片 三极管 场效应管

    上传时间: 2013-07-11

    上传用户:上善若水

  • RS-485 总线的死锁检测与解除

    针对RS-485 接口收发电路的特点,讨论RS-485 总线在Polling 和CSMA/CD 通信方式中死锁检测和解除死锁的方法。该方法同样适用于RS-422 接口。

    /dl/11037.html

    标签: 485 RS 总线 死锁

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:01010101

  • 全数字伺服系统中死区效应的补偿方法.pdf

    目前,在伺服控制系统中,通常采用三相电压型逆变器来驱动伺服电机。桥式电路中为避免同一桥臂开关器件的直通现象, 必须插入死区时间。死区时间和开关器件的非理想特性往往会造成输出电压、电流的畸变,从而造成电机转矩的脉动,影响系统工作性能。因此,必须对电压型逆变器中的死区效应进行补偿。 ...

    /dl/11368.html

    标签: 全数字 伺服系统 死区

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:萌萌哒小森森

  • FPGA内嵌200MHz低噪声锁相环时钟发生器

    FPGA器件在通信、消费类电子等领域应用越来越广泛,随着FPGA规模的增大、功能的加强对时钟的要求也越来越高。在FPGA中嵌入时钟发生器对解决该问题是一个不错的选择。本论文首先,描述并分析了电荷泵锁相环时钟发生器的体系结构、组成单元及各单元的非理想特性;然后讨论并分析了电荷泵锁相环的小信号特性和瞬态特性;并给出 ...

    /dl/11850.html

    标签: FPGA 200 MHz 内嵌

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:变形金刚

  • 基于PLC的硝酸生产联锁报警控制系统的实现Realization of interlock alarm system based on PLC in nitric-acid producing pro

    本文阐述了硝酸生产联锁报警控制系统的意义,介绍了系统的特性和要求,提出了生产联锁报警的实现线路,给出了PLC实现的部分流程。现场应用表明系统可靠实用。关键词:PLC ;联锁;报警;硝酸

    /dl/12143.html

    标签: Realization nitric-acid PLC interlock

    上传时间: 2013-07-07

    上传用户:xingisme

  • 应用于十万门FPGA的全数字锁相环设计

    在过去的十几年间,FPGA取得了惊人的发展:集成度已达到1000万等效门、速度可达到400~500MHz。随着FPGA的集成度不断增大,在高密度FPGA中,芯片上时钟的分布质量就变得越来越重要。时钟延时和时钟相位偏移已成为影响系统性能的重要因素。现在,解决时钟延时问题主要使用时钟延时补偿电路。 为了消除FPGA芯片内的时钟延时, ...

    /dl/13062.html

    标签: FPGA 应用于 全数字 锁相环

    上传时间: 2013-07-06

    上传用户:LouieWu

  • 基于FPGA的全数字锁相环的设计

    随着现代集成电路技术的发展,锁相环已经成为集成电路设计中非常重要的一个部分,所以对锁相环的研究具有积极的现实意义。然而传统的锁相环大多是数模混合电路,在工艺上与系统芯片中的数字电路存在兼容问题。因此设计一... ...

    /dl/13358.html

    标签: FPGA 全数字 锁相环

    上传时间: 2013-06-09

    上传用户:mosliu