在工业控制领域,多种现场总线标准共存的局面从客观上促进了工业以太网技术的迅速发展,国际上已经出现了HSE、Profinet、Modbus TCP/IP、Ethernet/IP、Ethernet Powerlink、EtherCAT等多种工业以太网协议。将传统的商用以太网应用于工业控制系统的现场设备层的最大障碍是以太网的非实时性,而实现现场设备间的高精度时钟同 ...
/dl/12767.html
标签: FPGA 时钟同步 方法研究
上传时间: 2013-07-28
上传用户:heart520beat
介绍电动汽车感应充电系统松耦合变压器的特性,通过Ansoft有限元分析软件对松耦合变压器进行仿真分析,结合简化磁路模型和磁力线分布,得出大气隙下的EE磁芯的精确模型。结合精确模型和模拟结果,给出横截面积对耦合系数的影响,实际制作变压器,测量发现,面积增加,耦合系数得到提高,输出电压能力增强,为松耦合变压器的 ...
/dl/22547.html
标签: 松耦合 变压器 仿真分析 磁路
上传时间: 2013-10-10
上传用户:行旅的喵
STM32,5110液晶显示声纳探鱼器200KHz,带电路图,精确到厘米 MC34063升压,大声压发射,实际板子上滤波电路没要(电路图上的滤波电阻电容电感没焊,开路或者短路)。一般200KHz的换能器在水里面的耦合比较好,在空气中发射出来的(或者接收的)强度很低。 用的MOSFET Relay,contact和release时间都可以做到很小,不过选的 ...
/dl/25270.html
标签: 5110 STM 200 KHz
上传时间: 2013-10-28
上传用户:songyue1991
摘 要:针对单片机进行高频测量存在的响应速度问题,利用CPLD适合精确、高速计数的特点,提出了一种基于单片机和CPLD的频率测量电路,通过CPLD对被测信号分频再与单片机计数值进行比较,实现了高精度、等精度测量,同时又解决了高频测量中存在的问题,满足了系统对响应时间的要求。该项研究成果已经在所设计信号源产品中得到了应 ...
/dl/30284.html
标签: CPLD 单片机 频率测量
上传时间: 2013-10-15
上传用户:283155731
针对某型检测设备使用中存在的工作点不稳定问题,基于C8051F410 单片机,采用PWM 调制技术和负反馈测量技术设计了一种新型的精确信号模拟电路,有效抑制了工作点漂移问题,提高了模拟电路输出精度和抗噪性能。本电路的设计思想和方法对于同类电路的设计具有一定的借鉴意义。 ...
/dl/30802.html
标签: C8051F410 信号 模拟电路设计
上传时间: 2014-10-14
上传用户:dapangxie
由于工业上炼钢厂冷轧工艺的需求,必须对乳化液浓度进行在线检测,以确保其钢材的质量。本文基于多功能组态软件DASYLAB为平台,以超声测量装置USD15为核心,辅以温度、流量信号采集仪表,共同完成乳化液浓度的在线检测功能。在本系统中通过实验测定大量的温度、声时及对应的浓度数据,利用数学上的多次插值算法建立起浓度- ...
/dl/41494.html
标签: Dasylab 浓度测量
上传时间: 2014-06-24
上传用户:vmznxbc
将激光测量技术和多目视觉照相测量技术相融合,分别发挥激光测量精度高、定位准,照相测量速度快、密度高的特点,研制曲面板三维形状的自动测量以及划线定位系统,实现曲面板上的关键点的位置精确、快速的测量,该系统可基本实现工业船舶行业对曲面板技术的要求,对造船业的发展具有重要的现实意义。 ...
/dl/41583.html
标签: 计算机视觉 三维测量
上传时间: 2013-11-07
上传用户:hui626493
温度是测量最频繁的物理参数。不过,温度测量技术却被严重误解,通常会导致高度不精确或无意义的数据。本应用笔记旨在澄清部分常见误解,并提供一些有趣和实用的电路解决方案。
/dl/41605.html
标签: AD 594 595 热电偶
上传时间: 2013-11-23
上传用户:liu999666
针对一般测温方法在进行流体多点温度测量时存在系统复杂,准确度和速度难以兼顾的问题,提出了一种基于温度-频率(T-F)变换的测量系统。该系统使用PIC18F6722单片机控制MOS管开关阵列,使多个测点的热敏电阻分别与TLC555构成振荡电路,将测点的温度变化转化为振荡频率的变化,使用8253计数芯片对TLC555的输出信号进行测量 ...
/dl/41746.html
标签: T-F 变换 多点 流体
上传时间: 2013-10-23
上传用户:assef
提出了一个考虑FP 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中,截取多个反射回峰,以提高材料参数提取的精确度。另外,考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高,提出了一种有效的厚度优化方法。以GaAs 为待测样品,利用上述方法精确提取了其折射率与消光系数谱. ...
/dl/41777.html
标签: 太赫兹 光谱 半导体材料 参数测量
上传时间: 2013-12-16
上传用户:alan-ee
虫虫下载站 半导体技术网 电子研发网 源码地带 电源技术网 单片机技术网 医疗电子技术 嵌入式系统与单片机