GB-T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则
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标签： 11279 GB-T 1989 电子元器件
上传时间： 2013-07-12
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GB-T4677.11-1984 印制板耐热冲击试验方法
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标签： 4677.11 GB-T 1984 印制板
上传时间： 2013-04-15
GB-T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 (用于威布尔分布)
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标签： 2689.2 GB-T 1981 寿命
上传时间： 2013-07-04
GB-T 2689.4-1981 命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法 (用于威布尔分布)
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标签： 2689.4 GB-T 1981 寿命
上传时间： 2013-05-18
GB-T4677.15-1988 印制板绝缘涂层耐溶剂和耐焊剂试验方法
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标签： 4677.15 GB-T 1988 印制板
上传时间： 2013-06-20
GB-T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法 (用于威布尔分布)
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标签： 2689.3 GB-T 1981 寿命
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GB 3048 电线电缆电性能试验方法 全套 16册
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标签： 3048 GB 电线电缆 性能
上传时间： 2013-07-17
GB-T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则
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标签： 2689.1 GB-T 1981 寿命
GB 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法
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标签： 4677.14 1988 GB 印制板
电子元器件抗ESD技术讲义:引 言 4 第1 章 电子元器件抗ESD损伤的基础知识 5 1.1 静电和静电放电的定义和特点 5 1.2 对静电认识的发展历史 6 1.3 静电的产生 6 1.3.1 摩擦产生静电 7 1.3.2 感应产生静电 8 1.3.3 静电荷 8 1.3.4 静电势 8 1.3.5 影响静电产生和大小的因素 9 1.4 静电的来源 10 1.4.1 人体静电 1 ...
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标签： ESD 电子元器件 讲义
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