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IGBT瞬态结壳温升计算

  • 上传时间: 2022-06-26
  • 上传用户:20125101110
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  • 标      签: igbt 瞬态结壳温升

资 源 简 介

热阻是评价IGBT可靠性的重要指标.寻找简便高精度的测量方法对IGBT热阻进行测试具有十分重要的意义.根据JESD51—14中的瞬态热阻抗定义式,提出了一种可以快速、准确计算IGBT模块结壳热阻的方法

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