本文提出一种基于PC104嵌入式工业控制计算机与现场可编程门阵列(FPGA)的PCB测试机的硬件控制系统设计方案。方案中设计高效高压控制电路，实现测试电压与测试电流的精确数字控制。选用双高压电子开关形式代替高压模拟电子开关，大幅度提高测试电压。采用多电源方式在低控制电压下实现对高压电子开关的控制。设计高速信号 ...
/dl/10030.html
标签： FPGA 电路板 测试机 硬件设计
上传时间： 2013-06-04
上传用户：lizhen9880
PIC 16F系列制作的 空调控制器 测试机
/dl/324755.html
标签： PIC 16F 空调控制器 测试机
上传时间： 2013-12-18
上传用户：ynsnjs
程序测试机，就是专门用来测试OI竞赛的数据的，省去一个个数据的手功测试的麻烦。只要输入相应的资料便可，程序执行完后会有列表清单，告诉你对了哪些题。
/dl/336528.html
标签： 程序 测试机
上传时间： 2013-12-26
上传用户：sy_jiadeyi
主机板测试机的液晶显示程序； 运行平台STC89C516；开发软件为KEIL 目标器件为19264
/dl/350987.html
标签： 19264 C516 KEIL STC
上传时间： 2014-01-14
上传用户：gxrui1991
IC 测试用verigy v50 测试机程式范例，对BL801 IC作应用测试。
/dl/454460.html
标签： verigy v50 IC 测试
上传时间： 2017-06-18
上传用户：hphh
介绍了测试机V50的调机参数，介绍了测试原理
/dl/518199.html
标签： V50 测试机测试举
上传时间： 2018-10-11
上传用户：johnnyyoung
基于FPGA的反应时间测试机verilog HDL实验，适合感兴趣的学习者学习，可以提高自己的能力，大家可以多交流哈
/dl/834253.html
标签： fpga verilog hdl
上传时间： 2022-05-20
上传用户：20125101110
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...
/dl/9060.html
标签： FPGA ADC 并行测试
上传时间： 2013-07-11
上传用户：tdyoung
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...
/dl/13846.html
标签： FPGA ADC 并行测试 方法研究
上传时间： 2013-06-07
上传用户：gps6888
关于TQT510测试机的程序，TM512芯片FT测试程序。。。。
/dl/502257.html
标签： IC测试程序
上传时间： 2015-04-14
上传用户：ilike
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