国产ADC替代，我在网上找的，希望能帮到正在国产化的你，刚才不会传~只传了1个，这回是全套了免费给大家
/dl/832190.html
标签： 国产ADC
上传时间： 2022-04-07
上传用户：zhanglei193
国产集成电路应用500例
/dl/1062.html
标签： 500 国产集成 电路应用
上传时间： 2013-07-31
上传用户：eeworm
专辑类-应用电路专辑-71册-594M 国产集成电路应用500例-672页-9.8M.pdf
/dl/5028.html
标签： 500 672 9.8
上传时间： 2013-06-26
上传用户：lwwhust
采用软件校正的TMS320f2812内置ADC采样值方案
/dl/8087.html
标签： f2812 2812 320f TMS
上传时间： 2013-08-02
上传用户：wang5829
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...
/dl/9060.html
标签： FPGA ADC 并行测试
上传时间： 2013-07-11
上传用户：tdyoung
随着现代通信与信号处理技术的不断发展，对于高速高精度AD转换器的需求越来越大。但是，随着集成电路工艺中电路特征线宽的不断减小，在传统单通道ADC框架下同时实现高速、高精度的数模转换愈加困难。此时，时分交替ADC 作为... ...
/dl/13715.html
标签： ADC 时分 数字校准
上传时间： 2013-07-08
上传用户：mylinden
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...
/dl/13846.html
标签： FPGA ADC 并行测试 方法研究
上传时间： 2013-06-07
上传用户：gps6888
·国产集成电路应用500例(672页)
/dl/13932.html
标签： 500 672 国产集成 电路应用
上传时间： 2013-06-17
上传用户：cc1
LM3S系列ADC例程：多种采样触发方式
/dl/14913.html
标签： LM3S ADC 采样 触发
上传时间： 2013-05-29
上传用户：6546544
LM3S系列ADC例程：内置的温度传感器
/dl/14914.html
标签： LM3S ADC 内置 温度传感器
上传时间： 2013-04-24
上传用户：qunquan
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