采用软件校正的TMS320f2812内置ADC采样值方案
/dl/8087.html
标签： f2812 2812 320f TMS
上传时间： 2013-08-02
上传用户：wang5829
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...
/dl/9060.html
标签： FPGA ADC 并行测试
上传时间： 2013-07-11
上传用户：tdyoung
随着现代通信与信号处理技术的不断发展，对于高速高精度AD转换器的需求越来越大。但是，随着集成电路工艺中电路特征线宽的不断减小，在传统单通道ADC框架下同时实现高速、高精度的数模转换愈加困难。此时，时分交替ADC 作为... ...
/dl/13715.html
标签： ADC 时分 数字校准
上传时间： 2013-07-08
上传用户：mylinden
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...
/dl/13846.html
标签： FPGA ADC 并行测试 方法研究
上传时间： 2013-06-07
上传用户：gps6888
LM3S系列ADC例程：多种采样触发方式
/dl/14913.html
标签： LM3S ADC 采样 触发
上传时间： 2013-05-29
上传用户：6546544
LM3S系列ADC例程：内置的温度传感器
/dl/14914.html
标签： LM3S ADC 内置 温度传感器
上传时间： 2013-04-24
上传用户：qunquan
freescale k40/k60 adc 例程
/dl/16057.html
标签： freescale adc 40 60
上传时间： 2013-06-30
上传用户：zhaiye
freescale k40/k60 cortex m4 pdb-adc 例程
/dl/16066.html
标签： freescale pdb-adc 40 60
上传用户：xuan‘nian
STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 keil&iar例程
/dl/16080.html
标签： ADC-Interleaved_DMAmode Discovery STM 32
上传用户：朗朗乾坤
DSP的ADC原理，对软硬件AD采样精度有帮助
/dl/16309.html
标签： DSP ADC
上传时间： 2013-06-18
上传用户：二驱蚊器
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