测试的目的决定了如何去组织测试。如果测试的目的是为了尽可能多地找出错误，那么测试就应该直接针对设计比较复杂的部分或是以前出错比较多的位置。如果测试目的是为了给最终用户提供具有一定可信度的质量评价，那么测试就应该直接针对在实际应用中会经常用到的商业假设。 ...
/dl/12726.html
标签： 硬件 测试技术 信号完整性 分
上传时间： 2013-07-03
上传用户：小杨高1
书中以国家“3C”认证为出发点，引出产品对电磁兼容的基本要求，给出相关产品所必须进行的电磁兼容测试项目及所采用测试标准。本书无意成为现有标准的翻版，而希望成为读者在学习、理解和掌握标准时的一种补充。为此，书中重点说明每种试验的目的、作者对标准的理解、试验中对试验仪器的要求、必须有的试验配置、正确的试验 ...
/dl/12848.html
标签： 3C认证 电磁兼容测试
上传时间： 2013-07-09
上传用户：gmh1314
\培训资料\射频硬件知识\硬件测试技术似懂非懂
/dl/12966.html
标签： 硬件测试
上传时间： 2013-08-05
上传用户：Wwill
安规测试操作指南 中文PDF扫描版本，主要介绍安规的基础知识及安规测试。
/dl/13122.html
标签： 测试 操作
上传时间： 2013-06-24
上传用户：13681659100
RealView+MDK+Jlink+Mini2440测试程序移植(成功)2
/dl/13354.html
标签： Jlink 2440 Mini MDK
上传时间： 2013-07-07
上传用户：telukeji
现场可编程门阵列(FPGA)能够减少电子系统的开发风险和开发成本，缩短上市时间，降低维护升级成本，故广泛地应用在电子系统中。最新的FPGA都采用了层次化的布线资源结构，与以前的结构发生了很大的变化。由于FPGA布线资源的固定性和有限性，因此需要开发适用于这种层次化的FPGA结构并提高布线资源有效利用率的布线算法。同时 ...
/dl/13645.html
标签： FPGA 布线
上传时间： 2013-04-24
上传用户：long14578
FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了目前集成电路发展的新需求，但是其结构同益复杂，规模也越来越大，内部资源的种类也R益丰富，但 ...
/dl/13646.html
标签： FPGA 测试 方法研究
上传时间： 2013-06-29
上传用户：Thuan
EMC测试资料，介绍EMC基础知识，以及测试项目等
/dl/13735.html
标签： EMC 测试
上传用户：极客
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...
/dl/13846.html
标签： FPGA ADC 并行测试 方法研究
上传时间： 2013-06-07
上传用户：gps6888
硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看. 硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看.
/dl/13856.html
标签： 硬件测试 报告
上传时间： 2013-07-29
上传用户：fanboynet
虫虫下载站 半导体技术网 电子研发网 源码地带 电源技术网 单片机技术网 医疗电子技术 嵌入式系统与单片机
