tlc5615的芯片应用程序,已经测试过,并且应用于成熟产品
/dl/481610.html
标签: 5615 tlc 芯片 应用程序
上传时间: 2014-11-28
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串行时钟芯片DS1302的c语言程序,经过测试
/dl/481654.html
标签: 1302 DS 串行时钟 c语言
上传时间: 2013-12-11
上传用户:a3318966
基于芯片TMS320C5500的40阶FIR滤波器的C程序代码,已测试通过
/dl/485871.html
标签: C5500 320C 5500 TMS
上传时间: 2014-11-05
上传用户:yuzsu
关于TQT510测试机的程序,TM512芯片FT测试程序。。。。
/dl/502257.html
标签: IC测试程序
上传时间: 2015-04-14
上传用户:ilike
充电器芯片在 晶圆测试中相关测试参数资料,仅供参考
/dl/508085.html
标签: CP测试文档
上传时间: 2015-11-09
上传用户:rj55
深圳永嘉微电 超高性价比水位检测芯片推出 *水位检测芯片可用于需要检测水位,缺水,溢出等场合。适合应用于饮水机、净饮机、咖啡机、水壶、洗碗机、制冰机等水相关家用电器和电子产品。 测试环境:在一个玻璃容器外壁(玻璃1-5毫米不等),通过双面电子 ...
/dl/520622.html
标签: 16 36W SOP QFN VK 36 8I W8 水位检测 感应电容
上传时间: 2019-08-28
上传用户:szqxw1688
深圳永嘉微电 超高性价比水位检测芯片推出 水位检测芯片可用于需要检测水位,缺水,溢出等场合。适合应用于饮水机、净饮机、咖啡机、水壶、洗碗机、制冰机等水相关家用电器和电子产品。 测试环境:在一个玻璃容器外壁(玻 ...
/dl/520941.html
标签: 36W QFN VK 36 16 4D W4 封装 体积 专用芯片
上传时间: 2019-11-06
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可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中,可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU,综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片设计中的各种可测试性方法,包括扫描设计 ...
/dl/744116.html
标签: 可测试性设计 CPU
上传时间: 2021-10-15
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ADS1256 ads1255资料大集合(软件驱动源码+硬件论文资料),包括了ADS1256芯片资料的datasheet、中文应用论文资料、基于STM32的例ADS1256程序,已经调通测试过的(还有一些是网络上面收集的程序24位AD转换器ADS1255及其应用.pdfads1255.cads1255.hADS1255信息采集.pdfADS1256.Cads1256.hADS1256_old.Cads1256_old.hADS1256芯 ...
/dl/745229.html
标签: ads1256 ads1255
上传时间: 2021-11-05
上传用户:xsr1983
详细介绍集成电路,从设计、晶无制造、封装测试,等全流程的芯片设计过程。
/dl/745752.html
标签: 芯片设计
上传时间: 2021-11-15
上传用户:canderile
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