排序:上传时间 相关度 下载量 查看数

线测试 17140

按分类查找:

  • FPGA软硬件性能基准测试的研究

    现场可编程门阵列FPGA具有性能好、规模大、可重复编程、开发投资小等优点,在现代电子产品中应用得越来越广泛。随着微电子技术的高速发展,成本的不断下降,FPGA正逐渐成为各种电子产品不可或缺的重要部件。 FPGA软件复杂的设置和不同的算法、FPGA硬件多样的结构和丰富的功能、各个厂商互不兼容的软硬件等差异,都不仅使如 ...

    /dl/11851.html

    标签: FPGA 软硬件 性能 基准测试

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:zhangyi99104144

  • 基于ARM与FPGA的高速数据采集技术研究

    本文研究基于ARM与FPGA的高速数据采集系统技术。论文完成了ARM+FPGA结构的共享存储器结构设计,实现了ARMLinux系统的软件设计,包括触摸屏控制、LCD显示、正弦插值算法设计以及各种显示算法设计等。同时进行了信号的高速采集和处理的实际测试,对实验测试数据进行了分析。 论文分别从软件和硬件两方面入手,阐述了基于ARM处 ...

    /dl/12035.html

    标签: FPGA ARM 高速数据 采集

    上传时间: 2013-07-04

    上传用户:林鱼2016

  • 基于“单片机CPLDFPGA体系结构”的程控交换机系统集成化设计

    有线通信方式由于具有保密性高、抗干扰能力强在军事通信中倍受青睐,因此,对军用有线通信设备的研究和设计具有十分重要的战略意义.TBJ-204型野战20线程控交换机是一种小型背负式模拟空分程控用户交换机,用于装备全军各兵种的作战、演习和紧急抢险等行动.该项目以该交换机为研究对象,在详细分析原设备的系统结构和功能实现方 ...

    /dl/12108.html

    标签: CPLDFPGA 单片机 程控交换机

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:啊飒飒大师的

  • PCB板的线宽、覆铜厚度与通过的电流对应的关系

    PCB板的线宽、覆铜厚度与通过的电流对应的关系 宽度(mm) 电流(A) 宽度(mm) 电流(A) 宽度(mm) 电流(A)0.15 0.2 0.15 0.5 0.15

    /dl/12200.html

    标签: PCB 覆铜 电流

    上传时间: 2013-06-28

    上传用户:gzming

  • allegro如何走蛇行线(delay tune)

    蛇行线(delay tune)1. 前言蛇行线可在Allegro 中藉由elong_by_pick 自动完成.若想以半自动方式则可用

    /dl/12455.html

    标签: allegro 64008 delay tune

    上传时间: 2013-06-25

    上传用户:allen-zhao123

  • PCB板的线宽、覆铜厚度对应的关系

    PCB板的线宽、覆铜厚度与通过的电流对应的关系,可作为PCB设计时的参考资料。

    /dl/12467.html

    标签: PCB 覆铜

    上传时间: 2013-06-16

    上传用户:liansi

  • 基于FPGA的可测性设计方法研究

    现场可编程门阵列(FPGA)是一种现场可编程专用集成电路,它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体,如今,FPGA系列器件已成为最受欢迎的器件之一。随着FPGA器件的广泛应用,它在数字系统中的作用日益变得重要,它所要求的准确性也变得更高。因此,对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义 ...

    /dl/12551.html

    标签: FPGA 可测性设计 方法研究

    上传时间: 2013-06-30

    上传用户:不挑食的老鼠

  • SD卡-SDHC卡扇区读写测试

    8051单片机配套的SD卡-SDHC卡扇区读写测试

    /dl/12579.html

    标签: SDHC SD卡 读写 测试

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:打算打算

  • 一款基于SRAM的FPGA器件设计

    FPGA是一种可通过用户编程来实现各种数字电路的集成电路器件。用FPGA设计数字系统有设计灵活、低成本,低风险、面市时间短等好处。本课题在结合国际上FPGA器件方面的各种研究成果基础上,对FPGA器件结构进行了深入的探讨,重点对FPGA的互连结构进行了分析与优化。FPGA器件速度和面积上相对于ASIC电路的不足很大程度上是由可 ...

    /dl/12645.html

    标签: SRAM FPGA 器件设计

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:6546544

  • 硬件测试技术及信号完整性分析

    测试的目的决定了如何去组织测试。如果测试的目的是为了尽可能多地找出错误,那么测试就应该直接针对设计比较复杂的部分或是以前出错比较多的位置。如果测试目的是为了给最终用户提供具有一定可信度的质量评价,那么测试就应该直接针对在实际应用中会经常用到的商业假设。  ...

    /dl/12726.html

    标签: 硬件 测试技术 信号完整性

    上传时间: 2013-07-03

    上传用户:小杨高1