使用NI的采集卡测量材料的磁滞特性，包含数据采集及积分运算的范例。
/dl/305253.html
标签： 采集卡 测量材料
上传时间： 2016-06-07
上传用户：1583060504
重点研究了场效应管驱动电路、脉冲超声波高压激发电路及接收保护电路,并简要介绍了其余电路的实现。对研制的电路进行了性能分析,所用电子元器件均无过热现象,并获得较为理想的电脉冲信号。设计的电路板已成功用于磁致伸缩式超声传感器测量材料弹性模量。 ...
/dl/24015.html
标签： 脉冲 接收 电路设计 超声传感器
上传时间： 2013-10-15
上传用户：fhjdliu
提出了一个考虑ＦＰ 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中，截取多个反射回峰，以提高材料参数提取的精确度。另外，考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高，提出了一种有效的厚度优化方法。以ＧａＡｓ 为待测样品，利用上述方法精确提取了其折射率与消光系数谱. ...
/dl/41777.html
标签： 太赫兹 光谱 半导体材料 参数测量
上传时间： 2013-12-16
上传用户：alan-ee
准确计算电机铁耗一直是困扰电机设计者的一个难题。传统方法是假设电机内部磁场仅是交变磁化的，根据铁磁材料在交变磁化条件下测量的数据，计算电机齿部和轭部由基波磁场造成的损耗，对于计算值与实测值之间的误差通过经验系数来修正。这种方法对于已经长期制造和使用的电机而言勉强适用，对于近年来发展很快的永磁电机、高 ...
/dl/8168.html
标签： 铁磁 材料 损耗
上传时间： 2013-06-27
上传用户：hjshhyy
材料试验机是测定材料机械性能的基本设备之一，应用范围广泛。它主要由机械、加载及测试等系统组成，其中测试系统是试验机不可缺少的组成部分，它对试验机的性能又起着决定性作用。随着实验科学的发展、科技的进步以及应用需求的增加，旧有的测试系统已逐渐不能适应人们的测试需求，为了扩大传统材料试验机的应用范围，全面 ...
/dl/11034.html
标签： ARM 材料 试验机 测试系统
上传时间： 2013-04-24
上传用户：pei5
针对材料试验机等设备中要求测量或控制材料拉伸或压缩的位移，一般采用光电轴角编码器检测位置信号，输出正交编码脉冲信号。若采用其他方法检测位置信号，必然导致电路设计复杂，可靠性降低。因此，提出一种基于LS7266R1的电子式万能材料试验机设计方案。给出了试验机中的控制器工作原理，LS7266R1与单片机的接口硬件设计， ...
/dl/29324.html
标签： 7266R 7266 LS R1
上传时间： 2013-11-02
上传用户：yl1140vista
吉时利纳米技术测量手册：纳米科学的应用中的电子测量指南在纳米材料和器件的精确的低直流电和脉冲测量上提供了实际的帮助。它既可以作为参考也可以帮助理解实验室中观察到的低电流现象，同时提供了在低电流、高阻值、低电压和低阻值测量中理论和应用考虑的概括。 ...
/dl/41867.html
标签： 测量 纳米技术 纳米
上传时间： 2013-10-12
上传用户：libenshu01
无损分析的方法和测量方法，无损三维尺寸测量，材料结构分析，无损检测
/dl/512814.html
标签： 分 扫描测量
上传时间： 2016-08-19
上传用户：非洲之星
半导体云讲堂——宽禁带半导体（GaN、SiC）材料及器件测试宽禁带半导体材料是指禁带宽度在3.0eV及以上的半导体材料， 典型的是碳化硅(SiC)、 氮化镓(GaN)、 金刚石等材料。 宽禁带半导体材料被称为第三代半导体材料。四探针技术要求样品为薄膜样品或块状， 范德堡法为更通用的四探针测量技术，对样品形状没有要求， 且不需 ...
/dl/827694.html
标签： 半导体 gan sic
上传时间： 2022-01-03
上传用户：zinuoyu
机械设计、原理、 制造、自材料、理论视频教程课程26：CAPP开发应用技术25讲.rar - 879.03MB课程25：传感器与测试技术39讲.rar - 1.71GB课程24：电工技术54讲.rar - 2.04GB课程23：电机学视频73讲.rar - 1.39GB课程22：电子技术64讲.rar - 2.10GB课程21：工业工程导论40讲.rar - 1.60GB课程20：公差与技术测量19讲.rar - 1. ...
/dl/833723.html
标签： 机械设计
上传时间： 2022-05-09
上传用户：wangshoupeng199
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