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基准测试 12831

按分类查找:

  • SD卡-SDHC卡扇区读写测试

    8051单片机配套的SD卡-SDHC卡扇区读写测试

    /dl/12579.html

    标签: SDHC SD卡 读写 测试

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:打算打算

  • 硬件测试技术及信号完整性分析

    测试的目的决定了如何去组织测试。如果测试的目的是为了尽可能多地找出错误,那么测试就应该直接针对设计比较复杂的部分或是以前出错比较多的位置。如果测试目的是为了给最终用户提供具有一定可信度的质量评价,那么测试就应该直接针对在实际应用中会经常用到的商业假设。  ...

    /dl/12726.html

    标签: 硬件 测试技术 信号完整性

    上传时间: 2013-07-03

    上传用户:小杨高1

  • 3C认证中的电磁兼容测试与对策

    书中以国家“3C”认证为出发点,引出产品对电磁兼容的基本要求,给出相关产品所必须进行的电磁兼容测试项目及所采用测试标准。本书无意成为现有标准的翻版,而希望成为读者在学习、理解和掌握标准时的一种补充。为此,书中重点说明每种试验的目的、作者对标准的理解、试验中对试验仪器的要求、必须有的试验配置、正确的试验 ...

    /dl/12848.html

    标签: 3C认证 电磁兼容测试

    上传时间: 2013-07-09

    上传用户:gmh1314

  • 硬件测试资料

    \培训资料\射频硬件知识\硬件测试技术似懂非懂

    /dl/12966.html

    标签: 硬件测试

    上传时间: 2013-08-05

    上传用户:Wwill

  • 安規测试操作指南

    安规测试操作指南 中文PDF扫描版本,主要介绍安规的基础知识及安规测试。

    /dl/13122.html

    标签: 测试 操作

    上传时间: 2013-06-24

    上传用户:13681659100

  • 高精度智能测时仪的设计

    区截装置测速法是现代靶场中弹丸测速的普遍方法,测时仪作为区截装置测速系统的主要组成部分,其性能直接影响弹丸测速的可靠性和精度。本文根据测时仪的发展现状,按照设计要求,设计了一种基于单片机和FPGA的高精度智能测时仪,系统工作稳定、操作方便、测时精度可达25ns。 本文详细给出了系统的设计方案。该方案提出了一 ...

    /dl/13178.html

    标签: 高精度 仪的设计

    上传时间: 2013-07-25

    上传用户:pwcsoft

  • MDK Jlink Mini2440测试程序移植

    RealView+MDK+Jlink+Mini2440测试程序移植(成功)2

    /dl/13354.html

    标签: Jlink 2440 Mini MDK

    上传时间: 2013-07-07

    上传用户:telukeji

  • FPGA测试方法研究

    FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件,FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短,并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大,满足了目前集成电路发展的新需求,但是其结构同益复杂,规模也越来越大,内部资源的种类也R益丰富,但 ...

    /dl/13646.html

    标签: FPGA 测试 方法研究

    上传时间: 2013-06-29

    上传用户:Thuan

  • FPGA低功耗布局布线算法的研究

    本文对嵌入硬核的FPGA布线通道宽度分布和改进FPGA布局算法进行了研究。文章在嵌入硬核的FPGA布线通道宽度分布研究中,引入了四种架构,其布线通道宽度分布函数分别为均匀、脉冲、高斯和三角分布。通过修改VPR工具的源代码,使平台适用于具有嵌入硬核的FPGA架构,利用MCNC基准电路来测试这四种架构的性能。实验结果表明:在 ...

    /dl/13648.html

    标签: FPGA 低功耗 布局布线 法的研究

    上传时间: 2013-06-27

    上传用户:xsnjzljj

  • EMC测试

    EMC测试资料,介绍EMC基础知识,以及测试项目等

    /dl/13735.html

    标签: EMC 测试

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:极客