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可测性设计 66235条

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  • CPU可测试性设计

    可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU，综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片设计中的各种可测试性方法，包括扫描设计 ...

    /dl/744116.html

    标签： 可测试性设计 CPU

    上传时间： 2021-10-15

    上传用户：uuuu009

  • 基于FPGA的边界扫描控制器的设计

    随着印制电路板功能的日益增强，结构日趋复杂，系统中各个功能单元之间的连线间距越来越细密，基于探针的电路系统测试方法已经很难满足现在的测试需要。边界扫描测试(BST)技术通过将边界扫描寄存器单元安插在集成电路内部的每个引脚上，相当于设置了施加激励和观测响应的内建虚拟探头，通过该技术可以大大的提高数字系统的 ...

    /dl/13280.html

    标签： FPGA 边界扫描 控制器

    上传时间： 2013-07-20

    上传用户：hewenzhi

  • Verilog HDL高级数字设计

    ·作者：[美]Michael D.Ciletti出版社：电子工业出版社 内容简介：本书通过大量完整的实例讲解了使用VerilogHDL进行超大规模集成电路设计的结构化建模方法、关键步骤和设计验证方法等实用内容。全书共分11章，涵盖了建模、结构平衡、功能验证、故障模拟和逻辑合成等关键问题，还有合成后设计确认、定时分析及可测性设 ...

    /dl/14684.html

    标签： Verilog nbsp HDL 数字设计

    上传时间： 2013-06-19

    上传用户：PresidentHuang

  • 一种片上系统复位电路的设计

    设计了一种片上系统（SoC）复位电路。该电路能对外部输入信号进行同步化处理以抑制亚稳态，采用多级D触发器进行滤波提升抗干扰能力，并且控制产生系统所需的复位时序以满足软硬件协同设计需求。同时，完成了可测性设计（DFT）。基于Xilinx spartan-6 FPGA进行了验证。结果表明该电路可以抑制90 ?滋s以下的外部干扰信号，并 ...

    /dl/34584.html

    标签： 片上系统 复位电路

    上传时间： 2014-12-29

    上传用户：guojin_0704

  • 用于SoC设计的DFT和BIST

    用于SoC设计的DFT和BIST，讲解了在SOC设计中需要考虑的可测性设计问题

    /dl/359961.html

    标签： BIST SoC DFT

    上传时间： 2016-10-28

    上传用户：亚亚娟娟123

  • 数字集成电路：电路系统与设计(第二版).pdf

    《数字集成电路:电路、系统与设计(第二版) 》，电子工业出版社出版，外文书名: Digital Integrated Circuits:A Design Perspective,Second Edition，作者：简·M.拉贝艾 (Jan M.Rahaey) (作者), Anantha Chandrakasan (作者), Borivoje Nikolic (作者), 周润德 (译者), 等 (译者)。本书由美国加州大学伯克利分校Jan M. Raba ...

    /dl/833892.html

    标签： 数字集成电路 电路系统

    上传时间： 2022-05-13

    上传用户：zhaiyawei

  • 集成电路设计制造中EDA工具实用教程

    《集成电路设计制造中EDA工具实用教程》共17章，分为三个部分。第一部分介绍半导体工艺和半导体器件仿真工具，分别介绍了Synopsys公司的TSUPREM4/MEDICI，ISE TCAD和Silvaco公司的Athena/Atlas等TCAD工具及其使用，并以ESD静电放电防护器件的设计及验证为实例介绍这些软件工具的应用。第二部分介绍了模拟集成电路设计工具的 ...

    /dl/839422.html

    标签： 集成电路 eda

    上传时间： 2022-07-16

    上传用户：zhaiyawei

  • FPGA测试方法研究.rar

    FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了目前集成电路发展的新需求，但是其结构同益复杂，规模也越来越大，内部资源的种类也R益丰富，但 ...

    /dl/9409.html

    标签： FPGA 测试 方法研究

    上传时间： 2013-06-11

    上传用户：唐僧他不信佛

  • FPGA的边界扫描测试方法研究

    现场可编程门阵列(FPGA)是一种新型器件,它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体.如今,FPGA系列器件已成为最受欢迎的器件之一.随着FPGA器件的广泛应用,它在数字系统中的作用日益变得重要,它所要求的准确性也变得更高.因此,对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义.随着集成电路规模的迅 ...

    /dl/11627.html

    标签： FPGA 边界扫描 测试 方法研究

    上传时间： 2013-08-06

    上传用户：mdrd3080

  • FPGA测试方法研究

    FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了目前集成电路发展的新需求，但是其结构同益复杂，规模也越来越大，内部资源的种类也R益丰富，但 ...

    /dl/13646.html

    标签： FPGA 测试 方法研究

    上传时间： 2013-06-29

    上传用户：Thuan

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