于TI DSP TMS320C67XX实现的嵌入式系统FLASH引导的实现。程序控制一片FLASH 芯片
源代码在线查看： readme.txt
程序实现对flash的测试，对SRAM的测试，以及对FLASH的编程。
FLASH的接口为16位，为了便于测试方便，将EMIF CE1 空间的宽度设为32位，即对FLASH 的读写操作均为32位宽的操作。
程序RAM 的FLASH 内地址为 0x01400000 数据RAM的FLASH 内地址为0x01420000
FLASH 的大小为256K × 16bit，映射在CE1空间地址从0x01400000到0x01500000 （以字的方式读写浪费了一半的地址空间）
SRAM的大小为512K × 32bit，映射在CE0空间地址从0x00400000到0x01400000
自举时，程序将EMIF的CE0空间初始化为16位数据宽度，然后将FLASH中数据段（地址0x01410000，16位数据宽）的内容搬移到片内RAM（地址0x80000000）中。
结果：
采用timer0配置为GPIO，编写一个较简单的程序，可用示波器通过TOUT脚电平高低的变化，检测程序是否正确。将程序分程序和数据段分别固化在FLAHS中，上电自举，结果正确（可看到TOUT脚电平高低的变化）。
存在问题：
程序起初采用SRAM作为中转，首先将文件中的数据读到片外SRAM中，然后由SRAM写道FLASH中，但是文件读到SRAM中时会出现字节存储位置出错，尚未解决！！！
后采用片内数据RAM作为中转，将文件中的数据首先读到片内RAM中，然后写道片外FLASH中，读写正确
