硅ESD(SESD)保护器件可以防止电路因静电放电(ESD)事件而受 损。0201规格SESD器件的尺寸极小(0.6mm x 0.3mm x 0.3mm), 比上一代器件的面积小了近70%,在空间受到限制的应用中为设计人 员提供了极大的灵活性。 SESD0201C-006-058器件是一款0.6pF的双向超低电容器件,适 合保护高速数据线(如USB和HDMI)或低压天线端口。由于该器件具 有超低电容、低插入损耗(频率在3GHz以下时,均小于0.5dB)和电 容-频率线性程度高的特点,有助于降低信号衰减。 SESD0201C-120-058 (12pF)器件和SESD0102P1BN-0400-090 (4pF) 器件为高电容双向器件, 可用于低速通用接口, 如键 盘、电源按钮、扬声器和移动电子设备中的麦克风。无论 SESD0201C-006-058还是SESD0201C-120-058器件都可按 IEC61000-4-2 level 4标准提供具有8kV接触放电和15kV空气放电 保护;而SESD0201P1BN-0400-090器件可按IEC61000-4-2 level 4标准提供提供10kV接触放电和16kV空气放电保护。 该产品系列中还包括SESD0402S-005-054器件,这是一款具有0.5 pF典型电容的超低电容SOD-923 (0402规格封装)单向 器件。该器件具有符合IEC61000-4-2 level 4标准的10kV接触放电保护等级,可在USB和HDMI等数字应用中使用。 产品系列中还包括SESD0402P1BN-0450-090器件。这是一款高电容(4.5pF) 高电容SMD双向器件,可按IEC61000-4-2 level 4标准提供10kV接触放电和16kV空气放电保护。
资源简介:在图像处理、航空航天、遥感测量、现代电子测试等很多领域,要求测试仪器设备能及时保存原始测试数据,用于事后数据分析和处理。同时前端探测器性能的提高,对于各种系统存储容量、体积、造价、稳定性等都提出了更高的要求。因此研制性能可靠、体积小、低成本...
上传时间: 2013-07-10
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上传时间: 2013-10-23
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上传时间: 2022-04-05
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上传时间: 2013-10-08
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上传时间: 2014-12-29
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上传时间: 2013-10-14
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资源简介:此程序是关于小波变换用于故障信号分析和处理的程序,特别适合去噪和第一类间断点的检测,适合机械波研究者参考
上传时间: 2014-01-07
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资源简介:此程序是关于小波变换用于故障信号分析和处理的程序。
上传时间: 2013-12-18
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